TDR Messgerät Entwicklung

[wkrug]

Meine Idee wäre die Messung mit dem TDC mit einem Fix eingestellten Komperator zu starten.
Ein zweiter Komperator bekäme dann eine sich ändernde Referenzspannung vom DAC.
Danach wird die gemessene Zeit aus dem TDC ausgelesen und abgespeichert.
Vorerst hätte Ich mal 128 Messzyklen geplant = 128 Impulse mit sich ändernder Referenzspannung.
Theoretisch gäbe der AVR32DB auch 1024 her!
Die Ergebnisse möchte Ich dann aufsteigend sortieren und die dann als Diagramm auf dem Display darstellen.
Als Messfrequenz hätte Ich dabei an 100kHz gedacht - Ich käme damit grob auf etwa 700 komplette Messungen / s - Ich denke das ist mehr als genug.
Der Start des Impulses und des restlichen Timings möchte Ich aus der Hauptschleife des Controllers starten.
Das Ende des Impulses möchte Ich über einen Timer Interrupt auslösen.
Ein Timer ist damit auch nicht überlastet, da er eben nur bis ca. 240 ( bei 100 kHz ) zählen muss bis ein Interrupt ausgelöst wird, der den Messimpuls abschaltet.
Problematisch sehe Ich dabei die Messung von Kurzschlüssen, da hierzu ein weiterer Komparator nötig wäre, der TDC aber nur einen Stopp Eingang hat.

Ich hab im Internet schon so einen ähnlichen Aufbau gesehen, hier wurde ein Digitales Poti als Referenzquelle verwendet.
Sollte also Prinzipiell schon mal hin hauen.

Dein Ansatz hätte den Charme, das die Messwerte nicht sortiert werden müssen, alledings seh Ich hier das Problem mit dem Timing für den A/D Wandler.

[Moppi]

Ich habe alle Anforderungen nochmal durchgelesen. Ich denke, Dein Fehler ist anzunehmen, dass die Rampenmethode schnell genug wäre. Es ist eine gute Methode, ja. Die Umwandlungsrate des DACs ist für diese Aufgabe aber nicht ausreichend (wobei noch unklar ist, welchen Du verwenden willst). Die µC kann zwar nur relativ langsam arbeiten , aber die Hardware Timer sind präzise genug, damit schnelle Messabläufe gesteuert werden können. Also diese Grundvoraussetzung wäre vorhanden.
Das Ziel ist, Reflexionen zu analysieren, um Fehler zu finden. Jeder kleine Fehler im eigenen Aufbau würde zusätzliche, unerwünschte Reflexionen erzeugen, die eine genaue Fehlerdiagnose erschweren würden.
Überlege, ob das angestrebte Rampenverfahren schnell genug ist, um Deine Anforderungen zu erfüllen. Zur genauen Messung müsstest Du dich im Nanosekundenbereich bewegen, jedenfalls für eine einzige Messung. Umso länger das dauert, umso ungenauer wird das Ergebnis sein, bis es nicht mehr sinnvoll brauchbar ist.

Das ist wie ein formel1-Rennwagen den man auf der Rennstrecke fotografieren will. ja man kann ihn bei jeder Runde fotografieren, auch an einer anderen Stelle, aber mit einer Belichtungszeit von 1/60s erkennt man ihn kaum noch oder gar nicht mehr.